2020 | Versuchsplanung - Produkte und Prozesse optimieren Carl Hanser Verlag, München, 10. Auflage 2020, ISBN 978-3446461468 |
Fachartikel in Zeitschriften und Büchern (seit 1990)
2015 | Laserpolieren von Vergütungsstahl mit Linienoptik Weiß, C., Ketzer-Raichle, G., Hofele, M., Reiter, E., Schneider, G., Kleppmann, W., Riegel, H., in: Jahrbuch Oberflächentechnik 2015, Leuze Verlag, Bad Saulgau, S. 96ff |
2014 | Design of Experiments (DOE): Optimizing Products and Processes efficiently Kleppmann, W., Chemical Engineering 121.11, S. 50ff |
2014 | Statistische Versuchsplanung Kleppmann, W., in: Masing - Handbuch Qualitätsmanagement, S. 501 - 523, Carl Hanser Verlag, München, 6. Auflage 2014 |
2008 | Untersuchungen zur Lästigkeit von Getriebegeräuschen Pannert, W., Kleppmann, W., Ziegler, B., Weidler, M.,VDI Berichte 2052, S. 67ff |
2004 | Kühlkreislauf-Entwicklung mittels DoE Ganser, J., Kleppmann, W., Kolb, A., Schwelberger, W., Trefzger, B., MTZ 65, S. 670ff |
2004 | Neue Verfahren zur statistischen Auswertung von Funkstörmessungen unter Berücksichtigung der Annahmewahrscheinlichkeit einer Stichprobe Deter, F., Dunker, L., Kleppmann, W., EMV 2004 Düsseldorf, VDE Verlag Berlin, S. 617ff |
2003 | New method for the statistical evaluation of RFI measurements Deter, F., Dunker, L., Kleppmann, W., EMC 2003 Zürich, VDE Verlag Berlin, ISBN 3-8007-2810-9, S. 517ff |
2001 | Versuchsplanung mit System Kleppmann, W., Management und Qualität 31, 5, S. 56ff |
2000 | Prozesse regeln - aber wie? Kleppmann, W., Qualität + Zuverlässigkeit 45, 5, S. 518ff |
1999 | Systematisch verbessern Kleppmann, W., Qualität + Zuverlässigkeit 44, 9, S. 1133ff |
1993 | Der Bart muss weg Schertel, H.-A., Kleppmann, W., Industrieanzeiger 3/93, S. 27ff |
1992 | Statistische Versuchsplanung - Klassisch, Taguchi oder Shainin Kleppmann, W., Qualität + Zuverlässigkeit 37, 2, S. 89ff |
1992 | Versuchsmethodik - Produkte und Prozesse gezielt verbessern Kleppmann, W., Perspektive 4/92, S. 8ff |
1991 | Dependence of dielectric time to breakdown distributions on test structure area Vollertsen, R.-P., Kleppmann, W., Proc. IEEE Int. Conference on Microelectronic Test Structures, Vol. 4, 1, S. 75ff |
1990 | Variation of defect density and its influence on yield extrapolation for integrated circuits Kleppmann, W., Vollertsen, R.-P., Quality + Reliability Engineering International 6 , S. 133ff |