Veröffentlichungen

2016Versuchsplanung - Produkte und Prozesse optimieren

Carl Hanser Verlag, München, 9. Auflage 2016, ISBN 978-3446447165

Fachartikel in Zeitschriften und Büchern (seit 1990)

2015Laserpolieren von Vergütungsstahl mit Linienoptik

Weiß, C., Ketzer-Raichle, G., Hofele, M., Reiter, E., Schneider, G., Kleppmann, W., Riegel, H., in: Jahrbuch Oberflächentechnik 2015, Leuze Verlag, Bad Saulgau, S. 96ff

2014Design of Experiments (DOE): Optimizing Products and Processes efficiently

Kleppmann, W., Chemical Engineering 121.11, S. 50ff

2014Statistische Versuchsplanung

Kleppmann, W., in: Masing - Handbuch Qualitätsmanagement, S. 501 - 523, Carl Hanser Verlag, München, 6. Auflage 2014

2008Untersuchungen zur Lästigkeit von Getriebegeräuschen

Pannert, W., Kleppmann, W., Ziegler, B., Weidler, M.,VDI Berichte 2052, S. 67ff

2004Kühlkreislauf-Entwicklung mittels DoE

Ganser, J., Kleppmann, W., Kolb, A., Schwelberger, W., Trefzger, B., MTZ 65, S. 670ff

2004Neue Verfahren zur statistischen Auswertung von Funkstörmessungen unter Berücksichtigung der Annahmewahrscheinlichkeit einer Stichprobe

Deter, F., Dunker, L., Kleppmann, W., EMV 2004 Düsseldorf, VDE Verlag Berlin, S. 617ff

2003New method for the statistical evaluation of RFI measurements

Deter, F., Dunker, L., Kleppmann, W., EMC 2003 Zürich, VDE Verlag Berlin, ISBN 3-8007-2810-9, S. 517ff

2001Versuchsplanung mit System

Kleppmann, W., Management und Qualität 31, 5, S. 56ff

2000Prozesse regeln - aber wie?

Kleppmann, W., Qualität + Zuverlässigkeit 45, 5, S. 518ff

1999Systematisch verbessern

Kleppmann, W., Qualität + Zuverlässigkeit 44, 9, S. 1133ff

1993Der Bart muss weg

Schertel, H.-A., Kleppmann, W., Industrieanzeiger 3/93, S. 27ff

1992Statistische Versuchsplanung - Klassisch, Taguchi oder Shainin

Kleppmann, W., Qualität + Zuverlässigkeit 37, 2, S. 89ff

1992Versuchsmethodik - Produkte und Prozesse gezielt verbessern

Kleppmann, W., Perspektive 4/92, S. 8ff

1991Dependence of dielectric time to breakdown distributions on test structure area

Vollertsen, R.-P., Kleppmann, W., Proc. IEEE Int. Conference on Microelectronic Test Structures, Vol. 4, 1, S. 75ff

1990Variation of defect density and its influence on yield extrapolation for integrated circuits

Kleppmann, W., Vollertsen, R.-P., Quality + Reliability Engineering International 6 , S. 133ff

Kleppmann wilhelm web

Prof. Dr. Wilhelm Kleppmann

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