Electron backscatter diffraction yields microstructure insights
von Gerhard, Schneider
D. Schuller, D. Hohs, R. Loeffler, T. Bernthaler, D. Goll, G. Schneider; AIP Advances, 14. November (2017)
von Gerhard, Schneider
D. Schuller, D. Hohs, R. Loeffler, T. Bernthaler, D. Goll, G. Schneider; AIP Advances, 14. November (2017)