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Ulrich Schiefer, D. Besch, N. Eter, S. Lun, M. Spitznas, C. E. Elger, E. Zrenner
Ulrich Schiefer, R. Schwabe, R. Vonthein, N. Ata, J. Paetzold, T. J. Dietrich
Ulrich Schiefer, C. Jürgens, T. Koch, R. Burth, A. Zell
Ulrich Schiefer, J. Schiller, T. J. Dietrich, D. Besch, J. Paetzold, R. Vonthein
Ulrich Schiefer, C. Jürgens, T. Koch, R. Burth, A. Zell
Ulrich Schiefer, E. Zrenner, M. Bach, F. Dannheim, M. Foerster, U. Kellner, G. Kolling, H. Krastel, B. Rassow, J. Weber
Ulrich Schiefer, I. Mildenberger, M. Skalej
Ulrich Schiefer, N. Eter, S. Lun, D. Besch, R. Burth, M. Spitznas
2000
Evaluation and follow-up advanced visual field defects with semi-automated kinetic perimetry (S-AKP)
Ulrich Schiefer, J. Schiller, J. Paetzold, N. Benda, R. Vonthein, T. J. Dietrich
Ulrich Schiefer, D. Besch, A. B. Safran, A. Kurtenbach, E. Apfelstedt-Sylla, T. J. Dietrich, C. Asenbauer, D. Dennig, E. Zrenner