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Christian Heinlein
Christian Heinlein, S. Boll, W. Klas, J. Wandel
Markus Weinberger ISBN: 3826590821, URN: urn:nbn:de:bsz:944-opus4-89453,
Download PDFDieter Ahrens
2000
Evaluation and follow-up advanced visual field defects with semi-automated kinetic perimetry (S-AKP)
Ulrich Schiefer, J. Schiller, J. Paetzold, N. Benda, R. Vonthein, T. J. Dietrich
Ulrich Schiefer, D. Besch, A. B. Safran, A. Kurtenbach, E. Apfelstedt-Sylla, T. J. Dietrich, C. Asenbauer, D. Dennig, E. Zrenner
Gerhard Schneider, A. Lüdtke, S. Burr, B. Stahl, R. Harris
Gerhard Schneider, A. Lüdtke, S. Burr, B. Stahl, I. R. Harris
Gerhard Schneider, J. Schmid, J. Theuer, B. Stahl, H. Zhao, T. Bernthaler, U. Klauck
Gerhard Schneider, T. Bernthaler, B. Stahl, H.-P. Koch