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Christian Heinlein, S. Boll, W. Klas, J. Wandel
Dirk Flottmann, L. Tan, M. Leon, C. Lee, H. Liu
Markus Weinberger ISBN: 3826590821, URN: urn:nbn:de:bsz:944-opus4-89453,
Download PDFDieter Ahrens
2000
Evaluation and follow-up advanced visual field defects with semi-automated kinetic perimetry (S-AKP)
Ulrich Schiefer, J. Schiller, J. Paetzold, N. Benda, R. Vonthein, T. J. Dietrich
Ulrich Schiefer, D. Besch, A. B. Safran, A. Kurtenbach, E. Apfelstedt-Sylla, T. J. Dietrich, C. Asenbauer, D. Dennig, E. Zrenner
Gerhard Schneider, A. Lüdtke, S. Burr, B. Stahl, R. Harris
Gerhard Schneider, A. Lüdtke, S. Burr, B. Stahl, I. R. Harris
Gerhard Schneider, J. Schmid, J. Theuer, B. Stahl, H. Zhao, T. Bernthaler, U. Klauck