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Christian Heinlein, S. Boll, W. Klas, J. Wandel
Christian Heinlein
Christian Heinlein
Christian Heinlein, S. Boll, W. Klas, J. Wandel
Markus Weinberger ISBN: 3826590821, URN: urn:nbn:de:bsz:944-opus4-89453,
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2000
Evaluation and follow-up advanced visual field defects with semi-automated kinetic perimetry (S-AKP)
Ulrich Schiefer, J. Schiller, J. Paetzold, N. Benda, R. Vonthein, T. J. Dietrich
Ulrich Schiefer, D. Besch, A. B. Safran, A. Kurtenbach, E. Apfelstedt-Sylla, T. J. Dietrich, C. Asenbauer, D. Dennig, E. Zrenner
Gerhard Schneider, A. Lüdtke, S. Burr, B. Stahl, R. Harris
Gerhard Schneider, A. Lüdtke, S. Burr, B. Stahl, I. R. Harris