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2000
Evaluation and follow-up advanced visual field defects with semi-automated kinetic perimetry (S-AKP)
Ulrich Schiefer, J. Schiller, J. Paetzold, N. Benda, R. Vonthein, T. J. Dietrich
Ulrich Schiefer, D. Besch, A. B. Safran, A. Kurtenbach, E. Apfelstedt-Sylla, T. J. Dietrich, C. Asenbauer, D. Dennig, E. Zrenner
Ulrich Schiefer, T. J. Dietrich, M. C. Flad, F. Stumpp, A. Schuster, D. Neumann, S. T. Becker, R. Schwabe
Ulrich Schiefer, W. Fink, E. W. Schmid
Ulrich Schiefer, G. Becker, S. Pitz, B. Jeremic, U. Schreck, M. Buchgeister, H. Wilhelm, E. Zrenner, M. Bamberg
Ulrich Schiefer, A. Kurtenbach, A. Neu, E. Zrenner
Ulrich Schiefer, A. Kurtenbach, A. Neu, E. Zrenner
Ulrich Schiefer, N. Ata, B. Selig, N. Benda
Ulrich Schiefer, J. Schiller, B. Selig, T. J. Dietrich, S. Becker, F. Stumpp, K. Dietz
Ulrich Schiefer, J. Schiller, T. J. Dietrich, L. Lorch, M. Skalej, C. Braun
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