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1065 Publikationen gefunden
Ulrich Schiefer, C. Burkhard, I. Mildenberger
2000
Evaluation and follow-up advanced visual field defects with semi-automated kinetic perimetry (S-AKP)
Ulrich Schiefer, J. Schiller, J. Paetzold, N. Benda, R. Vonthein, T. J. Dietrich
Ulrich Schiefer, D. Besch, A. B. Safran, A. Kurtenbach, E. Apfelstedt-Sylla, T. J. Dietrich, C. Asenbauer, D. Dennig, E. Zrenner
Ulrich Schiefer, N. Ata, B. Selig, N. Benda
Ulrich Schiefer, T. J. Dietrich, B. Selig, M. Skalej, C. Braun
Ulrich Schiefer, A. Bauer, G. Kolling, K. Dietz
Ulrich Schiefer, D. Besch, C. Asenbauer, E. Apfelstedt-Sylla, T. J. Dietrich, J. Isensee
Andreas Heinrich, R. Semerad, H. Kinder, H. Mosebach, M. Lindmayer
Markus Glück ISBN: 3-931713-57-1,
Ulrich Schiefer, T. J. Dietrich, D. Werth
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