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Peter Gentsch
Jürgen Nolting, C. Kress
Ulrich Holzbaur
2000
Controlling
Jürgen Stiefl
Peter Gentsch
Peter Gentsch
Peter Gentsch
Dieter Ahrens
2000
Evaluation and follow-up advanced visual field defects with semi-automated kinetic perimetry (S-AKP)
Ulrich Schiefer, J. Schiller, J. Paetzold, N. Benda, R. Vonthein, T. J. Dietrich
Ulrich Schiefer, D. Besch, A. B. Safran, A. Kurtenbach, E. Apfelstedt-Sylla, T. J. Dietrich, C. Asenbauer, D. Dennig, E. Zrenner
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