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Arif Kazi, J. Grewe, S. Jörg, J. Langwald
Arif Kazi, M. A. Sanz-Bobi, J. Villar, E. F. Sanchez-Ubeda, G. Plaza, R. F. Robledano, S. Revuelta
Anna Nagl
2000
Evaluation and follow-up advanced visual field defects with semi-automated kinetic perimetry (S-AKP)
Ulrich Schiefer, J. Schiller, J. Paetzold, N. Benda, R. Vonthein, T. J. Dietrich
Ulrich Schiefer, D. Besch, A. B. Safran, A. Kurtenbach, E. Apfelstedt-Sylla, T. J. Dietrich, C. Asenbauer, D. Dennig, E. Zrenner
Ulrich Schiefer, T. J. Dietrich, M. C. Flad, F. Stumpp, A. Schuster, D. Neumann, S. T. Becker, R. Schwabe
Ulrich Schiefer, H. Wilhelm, S. Pitz, G. Becker, B. Jeremic, M. Bamberg, E. Zrenner
Ulrich Schiefer, J. Schiller, J. Paetzold, N. Benda, R. Vonthein, K. Dietz, T. J. Dietrich
Ulrich Schiefer, T. J. Dietrich, F. Stumpp, A. Schuster, D. Neumann, M. Knorr
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