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Markus Peter, Kessler
Heinz-Peter Bürkle, H. Haisch, J. Krimmel, M. Schaepperle, J. Tomsu
Wolfgang Rimkus
Jürgen Stiefl
Christian Bayer
Reinhard Heyd, D. Erbslöh
Peter Gentsch
Dagmar Goll, H. Kleinschroth
Dieter Ahrens
2000
Evaluation and follow-up advanced visual field defects with semi-automated kinetic perimetry (S-AKP)
Ulrich Schiefer, J. Schiller, J. Paetzold, N. Benda, R. Vonthein, T. J. Dietrich
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